تست موازی پرسرعت چند تراشه به‌طور همزمان

شرکت تایوانی هائومن teknologies از یک فناوری آزمایش‌گیری انقلابی برای ریزال‌ای‌دی‌ها رونمایی کرده که امکان تست موازی پرسرعت چند تراشه به‌طور همزمان را فراهم می‌کند. این فناوری با دقت زمانی ۲۰ پیکوثانیه، پاسخ نوری گذرا هر منبع نور را ثبت می‌کند و پارامترهای کلیدی پهنای باند را بدون نیاز به اسکن دینامیک معمول استخراج می‌کند. این دستاورد که با همکاری شرکت AUO توسعه یافته، گلوگاه اصلی تولید انبوه تراشه‌های ریزال‌ای‌دی برای مراکز داده هوش مصنوعی را برطرف می‌کند و امکان غربالگری سریع تراشه‌های سالم را فراهم می‌آورد.

(دیجی‌تایمز / DigiTimes)